Oleh S Cell dan Dedi Ssc di SERVICE HANDPHONE (S & D CELLULAR)
BASEBAND
EAR DATA LOOP TEST
Test jalur Ear Data antara CPU & IC AUDIO (RETU/AVILMA/UEM). Ear Data Loop Test Failed = Contact Service
SIM CLK LOOP TEST
Test jalur SIM CLK 3V dari RAP IC Power Connector SIM Card. Bila bermasalah dari IC Power atau RAP
SIM IO CTRL LOOP TEST
Test jalur SIM I/O (SIM Reset) dari RAP IC Power Connector SIM Card. Bila bermasalah = IC Power, RAP
SLEEPX LOOP TEST
Test jalur SleepX=1,8V dari RAP. Bila bermasalah = CPU/RAP
UEM CBUS IF TEST
Test jalur CBUS (Control BUS) dari UEM. CBUS berguna untuk mengontrol hal2 tegangan. Bila bermasalah = UEM
KEYBOARD STUCK TEST
Test jalur ROW & COL dari CPU apakah ada yang macet (stuck) alias short tdk keluar tegangan. Asal dari RAP.
CAMERA IF TEST
Test jalur CCP Clock & Data dari CPU untuk Camera. Bila failed = CPU.
LCD TEST
Test Jalur CSX (Chip Select) dari CPU sehingga LCD terbaca no serialnya. Failed = Jalur CSX dari CPU
LPRF IF TEST
Test jalur output dari IC BT CPU. Bila failed = IC BT
LPRF AUDIO LINES TEST
Test jalur output dari IC BT CPU. Bila failed = IC BT
CURRENT CONS TEST
Test Current Consumption (Konsumsi Arus), Pengukuran arus oleh IC Power. Bila arus short/putus = IC Power
RADIO TEST
Test Output IC FM Radio TEA, output VAFR nya jika Failed = IC FM Radio bermasalah
BACKLIGHT TEST
Test IC LED Driver melalui jalur PWM IC Power sbg Enable. Bila failed = IC Power / IC LED Driver bermasalah
SIM LOCK TEST
Test SIM Lock Data pada ponsel BB5. Bila SIM Lock Corrupted/Lock maka Test jadi failed, HP jadi SIM Lock
SECURITY TEST
Test Security Data. Jika failed pertanda security area ponsel rusak. Solusi write PM 1&309, HWC&CCC. dll
BT WAKEUP TEST
Test jalur BT Wakeup dari RAP IC BT. Kaki Genio CPU di cek, bila Test Failed = CPU.
HOOKINT TEST
Test jalur Hook Det, yaitu jalur Auto Answer Handfree dari RETU Plugin Handfree. Bila failed = RETU.
TAHVOINT TEST
Test jalur TAHVO Interrupt. Saat Power On ditekan Tahvo Int akan bereaksi. Bila failed = TAHVO rusak.
SLEEPCLK FREQ TEST
Test output Sleep Clock dari IC Power (RETU/AVILMA), sebesar 32,768 Khz. Bila Failed = RETU / 32 Khz rusak
BTEMP TEST
Test Resistansi Resistor Btemp 47K ohm. Bila bermasalah maka R BTEMP ini rusak atau jalurnya ke IC Power.
BT SLEEP CLK TEST
Test Sleep Clock 32,768 menuju IC BT. Bila bermaslaah kemungkinan besar jalur Sleep CLK menuju IC BT
AMB LIGHT SENSOR TEST
Test Ambient Light Sensor (ALS) dari IC Power menuju LDR (sensor Cahaya). Bila bermasalah = IC Power
I2C TEST
Test jalur Interface & Interrupt Control. Yaitu jalur control I2C dari CPU utk IC Camera & FM Radio.
Failed = CPU
EXT DEVICE TEST
Test External Device seperti Memory Card, dll
CDSP RF BB IF TEST
Test Control CPU IC RF (RF BUS Clock) RFBUS Data, CLK, Enable & Reset. Bila Failed = CPU
CDSP RF SUPPLY TEST
Test Syarat kerja Tegangan IC RF Input & Outputnya. Bila ada tegangan yg bermasalah = failed
CDSP TX IQ TEST
Test Signal Data TX I/Q dari CPU yg mau ditransmit keluar. Bila Failed = CPU
CDSP TXC DATA TEST
Test TXC Power (TX Control) dari IC Power (RETU/AVILMA). Masalah dari IC Power.
CDSP WCDMA TX POWER TEST
Test Outpput Power untuk WCDMA PA (PA 3G) dari SMPS PA 3G. Bila bermasalah = Signal 3G = SMPS PA 3G
CDSP RX IQ LOOP BACK TEST
Test Output akhir dari IC RF berupa Signal Data RX I/Q. Hasil mixer dari Signal Operator dgn Signal VCO.
CDSP RX PLL PHASE LOCK TEST
Test Rangkaian kerja RX VCO berupa VCO, Control VCO dari IC RF (CP Out & 2n2), serta VCC RX VCO
CDSP TX PLL PHASE LOCK TEST
Test Rangkaian kerja RX VCO berupa VCO, Control VCO dari IC RF (CP Out & 2n2), serta VCC TX VCO
CDSP PWR DETECTOR BIAS TEST
Test mendeteksi power WTXDET untuk PA 3G, IC Power PA. Bila bermasalah = RETU/PA
CDSP GSM TX POWER TEST
Test Power Control untuk IC PA GSM. Kadang hasilnya Unknown result
tidak masalah karena SMPS PA GSM memang tdk ada, Adanya Power PA dari IC
RF.
SEC CAMERA IF TEST
Test Rangkaian kerja Camera Depan, dan output yg dihasilkannya.
RF CDSP (CELLULAR DIGITAL SIGNAL PROCESSOR)
ST_CDSP_RF_BB_IF_TEST
ST_CDSP_RF_SUPPLY_TEST
ST_CDSP_TX_IQ_TEST
ST_CDSP_TXC_DATA_TEST
ST_CDSP_WCDMA_TX_POWER_TEST
ST_CDSP_RX_IQ_LOOP_BACK_TEST
ST_CDSP_RX_PLL_PHASE_LOCK_TEST
ST_CDSP_TX_PLL_PHASE_LOCK_TEST
ST_CDSP_PWR_DETECTOR_BIAS_TEST
ST_CDSP_GSM_TX_POWER_TEST
ST_CDSP_RF_BB_IF_TEST
RF BB IF
Test artinya jalur Control dari CPU ke IC RF (RFBUS)
Jika Tidak ada Control dari CPU, maka secara otomatis, IC RF tdk akan
bekerja. Akibatnya hasil Selftest berikutnya akan Unknown semua.
ST_CDSP_RF_SUPPLY_TEST
RF Supply Test. Test ini memeriksa supply tegangan pada IC RF. Apabila
ada tegangan yang bermasalah maka akan dilaporkan hasilnya disini dengan
hasil Unknown Result.
Jadi hal yang harus kita check adalah syarat kerja IC RF baik HINKU+VINKU, maupun AHNE, PIHI, AHNEUS.
Syarat kerja HINKU:
Input HINKU :
VBATRF1 = 4V (Untuk diolah menjadi output VR1 & VOUT)
VCP1 = 4,75V (Untuk diolah menjadi Teg. CP_OUT yg berubah2 antara 0 s/d 3,3V ke VCO
VR1/VXO = 2,5V adalah Tegangan kerja bagian Digital untuk HINKU & VINKU & VCTCXO (VDIG)
VREF=1,35V dari RETU/AVILMA untuk IC RF (VB_EXT)
Teg. Reset dari CPU utk HINKU sebesar 1,8V di J7515
AFC 1,1v utk VCTCXO mengatur fase frekuensi RF Clock 38,4Mhz
Output HINKU :
VR1 = 2,8V di C7504
VOUT = 2,8V di C7515 untuk tegangan kerja RX VCO
CPOUT = Teg. Control utk RX VCO. (~0.98/~1,33/~3.30)
VREF_CM = 0,8V sebagai laporan untuk RAP
Input VINKU :
VBAT1 = 4V (Untuk diolah menjadi VR1 2,8v (VREG1)
VBAT2= 4V (Untuk diolah menjadi VR2 2,8v (VREG2)
VCP2 4,75v Dari RETU untuk VINKU untuk :
VDAC = Voltage Digital to Analog Converter
VPLUS = Voltage Plus
Teg. VREF = 1,35 di C7570 untuk Tegangan Bias VINKU (VB_EXT)
Teg. VR1/VXO dari RETU untuk bagian Digital VINKU 2,5v
Teg. TX Control (TXC dari RETU utk VINKU di ukur di C7549) berkisar 1,4V s/d 1,8V
Teg. Reset dari CPU RAP utk VINKU sebesar 1,8V di J7517 yaitu TXRESETX
Output VINKU :
VR1/VREG1 = 2,8V (Teg. Kerja/Regulator dari VINKU untuk :
VRF_TX = Tegangan Block Transmitter VINKU
VR2/VREG2 = 2,8V (Teg. Kerja/Regulator dari VINKU untuk :
VLO = Voltage Local Oscillator
VVGA = Voltage Gain Amplifier
VPRE = Voltage Pre Amplifier
TXMUX VINKU = TX Multiplexer
TX VCO = Tegangan kerja TX VCO
Chip Detect PA WCDMA & Chip Detect PA GSM (Identity PA)
Pemberi Tegangan Signal RF WCDMA Output dari VINKU menuju PA
CPOUT dari VINKU di ukur C7571 sebesar (~1,23v/~1.70v/~ 3,17v)
VPD dari VINKU utk IC PA berfungsi untuk mengenable PA Power Detector = 2,8v
VDet dari VINKU utk IC PA berfungsi sbg Tegangan Control PA, berdasarkan besarnya TXC dari RETU.
RX VCO
VCC = tegangan VOUT 2,8v diukur di C7515 yg dtg dari HINKU
VC = teg. control CPOUT diukur di C7516 dari HINKU (ada Loop Filter C7524 sebesar 2n2 Farad)
Sebesar 1,33 V utk GSM 900
Sebesar 0,98V utk GSM 1800
Sebesar 3,3V utk 3G 2100 Mhz
TX VCO
VCC = Teg. VREG2 =2,8V yg dtg dari VINKU
VC = Teg. Control CPOUT diukur di C7568 dari VINKU (ada Loop filter C7573 sebesar 2n2 Farad)
Sebesar 1,7 V pd Band GSM 900
Sebesar 1,23 V pd Band GSM 1800
Sebesar 3,17 V pd Band 3G 2100 Mhz
ST_CDSP_TX_IQ_TEST
TX IQ Test berasal dari RAP menuju IC RF. TX I/Q tdk keluar menunjukkan masalah pada RAP
ST_CDSP_TXC_DATA_TEST
TX Control berasal dari RAP RETU RF IC (Vinku TX)
Fungsinya untuk mengontrol kekuatan TX IC RF.
Datanya dari RAP, sedangkan Controlnya, tegangannnya dari IC Power RETU. TXC Berkisar 1,4 s/d 1,8V
ST_CDSP_WCDMA_TX_POWER_TEST
WTXDET ini adalah hasil test dari Regulator PA WCDMA. Apabila Unknown
Result bisa diakibatkan dari kerusakan Regulator PA WCDMA.
ST_CDSP_RX_IQ_LOOP_BACK_TEST
Adalah hasil kerja dari IC RF.
RX I/Q berupa signal data.
Signal Data adalah Signal Operator setelah dikurangi/dibuang signal pembawanya oleh system kerja PLL.
ST_CDSP_RX_PLL_PHASE_LOCK_TEST
Test ini mencheck system kerja RX PLL pada ponsel.
Rangkaian yang bekerja yaitu RX VCO & IC RF.
RX VCO (Voltage Controlled Oscillator) adalah Oscillator yg
mengeluarkan frekuensi. Besarnya keluaran frekuensi bergantung besarnya
tegangan control yg didapatnya.
RX VCO memperoleh tegangan kerja yaitu VOUT 2,8v dari IC RF.
Dan RX VCO juga memperoleh tegangan Control yaitu CP_OUT. IC RF sendiri awalnya dari VCP1 4,75v
Jalur tegangan CP OUT memiliki Rangkaian loop filter berupa Capasitor 2n2 yang sering bermasalah.
ST_CDSP_TX_PLL_PHASE_LOCK_TEST
Test ini mencheck system kerja TX PLL pada ponsel.
Rangkaian yang bekerja yaitu TX VCO & IC RF.
TX VCO (Voltage Controlled Oscillator) adalah Oscillator yg
mengeluarkan frekuensi. Besarnya keluaran frekuensi bergantung besarnya
tegangan control yg didapatnya.
TX VCO memperoleh tegangan kerja yaitu VOUT 2,8v dari IC RF.
Dan TX VCO juga memperoleh tegangan Control dari yaitu CP_OUT. IC RF sendiri awalnya dari VCP2 4,75v.
Jalur tegangan CP OUT memiliki Rangkaian loop filter berupa Capasitor 2n2 yang sering bermasalah.
ST_CDSP_PWR_DETECTOR_BIAS_TEST
Ini adalah hasil test dari Regulator PA WCDMA. Apabila Unknown Result bisa diakibatkan dari kerusakan Regulator PA WCDMA.
ST_CDSP_GSM_TX_POWER_TEST
Test ini Mencheck hasil output dari PA GSM. Namun karena PA GSM tdk
memiliki sensor SLOWAD. Maka hasil disini pasti Unknown Result. Jadi
diabaikan saja.
Postingan
